电子探针实验室

　　实验室位置：2号楼2129房间 

　　实验室负责人：李海兵研究员 

　　联系电话：15652928650

　　实验室概况：

　　电子探针实验室成立于2006年，目前拥有日本电子（JEOL）JXA-8100型电子探针一台。实验室目前可实现各类固体样品（岩石、矿物和材料等）高分辨率微区表面形貌和成分分布特征观察、高精度微区成分定量分析、高精度微区元素线扫描和面扫描分析。实验室主要服务于固体地球科学和行星科学领域研究，实验室坚持大型仪器运行“开放、合作、共享、高效”的传统，面向国内外地球科学和行星科学领域的研究人员及研究生开放。

仪器介绍：

　　JXA-8100型电子探针是由日本电子JEOL公司生产，于2006年开始安装使用。仪器配备4道波谱仪、8块分光晶体和OXFORD公司INCA能谱仪。仪器束流大小10-5 ~ 10-12A可调，图像观察倍数40 ~30000倍可调，空间分辨率可达数十纳米级别，可分析元素范围广（F-U）。

　　该仪器可获取高分辨率背散射图像（BSE）和二次电子图像(SEI)，能直观地显示样品的表面形貌及成分分布特征；可以对微区成分进行高精度点分析、线扫描分析和面扫描分析，确定固体样品微区化学组成及含量，展示样品特定区域主、微量元素的详细分布特征。

日本电子JXA-8100型电子探针（2006年安装使用）

工作内容：

　　电子探针具有分析区域小、灵敏度高、不破坏样品和可分析元素范围大,适用于测试细小，珍贵、具多阶段演化的样品。被广泛应用于地球科学和行星科学研究，为成矿作用、地球-月球对比、大陆俯冲带壳幔相互作用、岩石圈演化等课题项目研究提供技术支撑。主要应用有：

　　（1） 二次电子图像观察（SEI）;

　　（2） 背散射图像观察（BSE）;

　　（3） 常规造岩矿物（包括氧化物、硅酸盐、硫酸盐、磷酸盐、碳酸盐矿物）主量元素含量分析；

　　（4） 低含量挥发组分F,Cl分析；

　　（5） 造岩矿物主量和少量元素的面扫描分析（X-ray Mapping）;

收费标准：

实验前期准备阶段：

　　所外人员高真空镀碳单价80元/片，所内人员高真空镀碳单价60元/片

实验阶段：

　　所外人员按时间计算单价为800元/小时（包含背散射图像费用）；按点计算单价为80元/点，背散射图像50元/幅。最终实验费用取两种计算方法中的最高值。

　　所内人员按时间计算单价为600元/小时（包含背散射图像费用）；按点计算单价为60元/点，背散射图像35元/幅。最终实验费用取两种计算方法中的最高值。

　　测试标样、质量监控以及数据处理不计入收费。

送样须知：

　　1.送样前需填写送样单，注明样品的岩性、矿物种属及所分析矿物的元素种类和重点关注的元素。送样单下载见附件一。

　　2.拟分析样品应表面平整洁净，对表面不平整的样品，需进行精细抛光。测试样品可以是探针片、树脂靶和矿物晶体等，如样品比较特殊，需提前与实验室沟通。

　　3.抛光后或不需要抛光的薄片，需要送样人用碳素笔在薄片上圈定大致分析位置并标出之间的路径，方便在电镜下查找。注：清洁后的样品表面不可用手指触摸，以免污染。

　　圈定位置后对样品进行镀碳（如需本实验室镀碳，请提前2-4天将样品送至实验室），样品在镀导电膜之后尽量避免触碰其表面，以免损坏导电膜，影响实验数据。

　　附件一：地科院地质所电子探针实验室送样单

实验预约：

　　预约联系人：毛小红

　　联系电话：15652928650

　　送样地址：北京市海淀区西北旺镇友谊路东50米中国地质科学院京区科研实验基地2号楼2129房间