第五届中国二次离子质谱学会参会代表参观北京离子探针中心实验研究基地

2014年10月21日上午，参加“第五届中国二次离子质谱学会议”的近20名来自全国各地的代表参观了北京离子探针中心北清路生命科学园实验研究基地。

“中国二次离子质谱学会议”由清华大学发起，每两年举办一次，是国内唯一一个二次离子质谱（SIMS）学专业学术研讨会。该会议举办的宗旨是为我国二次离子质谱学界的学术研讨、技术交流与合作提供平台，推动二次离子质谱学的发展，促进二次离子质谱技术在各领域的应用。“第五届中国二次离子质谱学会议”于2014 年10月18-20日在北京中国科学院地质与地球物理所举行，共有来自全国（含港澳台地区）化学、医药、生物、材料和地球科学领域的100余名代表参会。

 此次前来北京离子探针中心参观的代表主要是地学界同仁。中心工作人员引导来宾分别参观了SHRIMP 实验室、扫描电镜实验室、样品制备车间和大型科学仪器设备研发车间等设施，并介绍了中心近年来在科研领域及实验室建设方面所取得的成就。

（离子探针  王晨  供稿）

会议代表参观SHRIMP实验室

会议代表参观矿物样品靶制备车间

会议代表参观大型科学仪器设备研发车间